Yi-Feng-Liu/defect-cluster-search-system

提供產線使用者輸入產品片號即可查詢目前產品狀態以及前後製程站點的比對，加上缺陷cluster的座標以及位置標記，可快速對產品進行等級判別以及卡控機制，透過可視化的方式可了解造成缺陷的原因是否為先前的製程或是後面的製程所導致。

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